semeds(SEMEDS原理)

eds测表面还是穿透

如：金属化膜表面镀层的检测；金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

两者的扫描速度完全不同，行扫描的速度比帧扫描的速度快，对于1000条线的扫描图象来说，速度比为1000。扫描电子显微镜是一种大型分析仪器，它广泛应用于观察各种固态物质的表面超微结构的形态和组成。

- EDS代表能谱分析，是一种在材料科学和电子显微镜学中使用的技术。它用于分析材料的组成，特别是固体样品的元素成分。EDS工具通常与透射电子显微镜（TEM）或扫描电子显微镜（SEM）一起使用。

图2对样品进行线扫的结果图 EDS 面扫 EDS 面扫描分析是电子束在样品表面扫描，试样表面的元素在屏幕上由亮度或彩色表现出来，常用来做定性分析。亮度越高，元素含量越高，结合形貌像常用于成分偏聚、相分布的研究中。

有关。eds属于浅层表层分析，分析深度与电子束的能亮有关，其光斑大小是和加速电压有很大的关系的，加速电压越高，入射电子的能量能越高，在样品中的光斑可穿透和散射的范围越大。光斑是一种太阳光球层边缘的活动现象。

XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM，图2-1119）于20世纪60年 代问世，用来观察标本的表面结构。